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■講演会の概要
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| 日時： |
2011年11月25日(金) 13:00〜16:30 |
| 会場： |
東京・江東区有明 東京ビッグサイト会議棟 8F 801
≪会場地図はこちら≫
※急ぎのご連絡は東京メガセミナー(株)(TEL06-6363-3372)まで！！
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受講料：
(税込) |
(税込) 42,000円
⇒E-mail案内登録会員
39,900円（ネットからお申し込みの方、全員）
※資料付 |
上記価格より：
＜2名で参加の場合1名につき7,350円割引＞
＜3名で参加の場合1名につき10,500円割引＞（同一法人に限ります）
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| 講師： |
パナソニック電工(株)
解析センター 基板解析事業部 本山 晃 氏
＜研究内容＞
電子部品の信頼性・安全性評価技術開発
＜活動内容＞
日本信頼性学会 広報委員
日本信頼性学会 「故障物性研究会」 幹事
日本信頼性学会 「信頼性試験研究会」 会員
＜解析センターホームページ＞
http://group.panasonic-denko.co.jp/pewjac/
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| 主催： |
サイエンス＆テクノロジー株式会社
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■講演会のプログラム内容 |
■電子部品の信頼性・安全性評価と寿命予測
＜趣旨＞
電子機器の小型・軽量化に伴い、それに搭載される電子部品も小型化・薄膜化が進んでいます。一方、コストダウン狙いで海外の部品の使用に伴い、市場トラブルが増加傾向にあります。このような状況では、電子機器に使用する電子部品の信頼性を見極めることが重要となっています。
そこで本講座では、信頼性の基礎知識から電子部品の故障寿命の予測方法まで受動部品を中心に実際の例を使いながら解説し、寿命予測を実施していくに充分な情報を提供します。
１．電子部品を調達する時の課題
1.1 調達部品のトラブル現状
1.2 調達部品のトラブル現状
1.3 信頼性の高い部品を調達する為の考え方
２．部品調達時に知っておくべき用語と試験法
2.1 用語の意味・定義
2.2 故障数と時間の関係
2.3 故障率を下げる為の考え方
2.4 信頼性試験の種類と目的
３．評価する際に用いる信頼性理論
3.1 使用温度と寿命時間の関係式（アレニウスモデル）
3.2 温度に加えて湿度も考慮した手法（アイリングモデル）
3.3 温度と更に歪応力を考慮した手法（コフィン・マンソンモデル）
４．加速試験による市場での寿命予測の実際
4.1 寿命に及ぼすストレス要因
4.2 寿命予測のプロセス
4.3 加速試験による寿命予測の実際
５．市場トラブルの実例
5.1 AL電解コンデンサ
5.2 フィルムコンデンサ
□質疑応答・名刺交換□ |
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