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■講演会の概要
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| 日時： |
2010年6月21日(月) 13:00〜16:30 |
| 会場： |
東京・大田区蒲田 大田区産業プラザ（PiO） 6F C会議室
≪会場地図はこちら≫
※急ぎのご連絡は(株)メガセミナー・サービス(TEL06-6363-3372)まで！！
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受講料：
(税込) |
(税込) 42,000円
⇒E-mail案内登録会員
39,900円（ネットからお申し込みの方、全員）
※資料付 |
上記価格より：
＜2名で参加の場合1名につき7,350円割引＞
＜3名で参加の場合1名につき10,500円割引＞（同一法人に限ります）
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| 講師： |
(株)島津製作所 分析計測事業部 応用技術部 道下
晃 氏 |
| 主催： |
サイエンス＆テクノロジー株式会社
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■講演会のプログラム内容 |
| ■ガス吸着法による比表面積・細孔分布測定と解析
＜趣旨＞
近年において，ガス吸着法による比表面積測定装置は比表面積測定の主流と言える状況となっています。また細孔分布につきましてはガス吸着法と水銀圧入法によりマイクロ孔からマクロ孔まで測定することが可能で多種にわたる分野で必要とされています。しかし，測定装置や解析手法などについて，まとまった解説書やセミナー・講習会は少なく，知識や情報を得る機会はかなり限られているため装置を使いこなせていないケース
もよくあります。そこで，今回はガス吸着法に着目し、測定原理・測定技術の解説に加え，アプリケーションなど，幅広い内容について紹介します。
１．比表面積・細孔分布について
２．吸着のプロセス
３．ガス吸着法の測定原理
４．ガス吸着測定装置
５．サンプルの前処理
６．比表面積の解析
７．比表面積測定例および注意点
８．細孔分布の解析
９．解析例の紹介
□質疑応答・名刺交換□
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